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表面等离子体暗场光谱系统


厂家型号:Npns-D-02


仪器配置:

    光学水平分辨率1 um;最大放大倍数1000倍;光谱测量范围280-1200 nm;最小分辨率0.3 nm。


应用领域:

    对纳米结构的表面等离子体分布特性、传播特性和界面特性进行研究。

    1.利用该仪器进行单个纳米颗粒的暗场成像及光谱分析技术,并借助单个纳米颗粒的定位手段,进行有关探测金属纳米颗粒远场信息探究。相比于明场显微镜,由于暗场系统具有过滤入射光从而直接接收纳米尺度样品散射光的特点,使样品成像的分辨率被极大地提升,一般对于散射截面较大的银纳米颗粒的可观测尺度范围最小可达到20 nm左右。因此,通过在暗场显微成像的基础上进一步地结合光谱分析仪器与CCD探测等手段,可为单个纳米颗粒体系等离子体远场特征的分析提供简单有效的方法。

    2.在金属纳米结构表面等离子体的有关实验研究中,对于表面等离子体远场的探测和分析是直接获得纳米尺度下的样品光学性质的最便捷和常用的手段。在金属纳米颗粒的远场特性的有关研究中一般采用暗场显微成像的技术。

    3.通过将不同波长的激光激光介入到暗场系统中,用于微区催化合成银纳米线或金属颗粒的纳米焊接等。



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