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表面形貌观察


由于电子束穿透样品的能力低,因此要求所观察的样品非常薄,对于透射电镜常用75200kV加速电压来说,样品厚度控制在100200nm。复型技术是制备这种薄样品的方法之一,而用来制备复型的材料常选用塑料和真空蒸发沉积碳膜,它们都是非晶体。复型技术只能对样品表面形貌进行复制,不能揭示晶体内部组织结构等信息,受复型材料本身尺寸的限制,电镜的高分辨本领不能得到充分发挥,萃取复型虽然能对萃取物相作结构分析,但对基体组织仍然是表面形貌的复制,而由金属材料本身制成的金属薄膜样品则可以最有效地发挥电镜的极限分辨本领。能够观察和研究金属及其合金的内部结构和晶体缺陷,成像及电子衍射的研究,把形貌信息与结构信息联系起来;能够进行动态观察,研究在温度改变的情况下相变的形核长大过程,以及位错等晶体缺陷在应力下的运动与交互作用。

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